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    文章詳情

    表面粗糙度的測(cè)量

    日期:2024-10-18 16:57
    瀏覽次數(shù):5651
    摘要:
    表面粗糙度的測(cè)量
    表面粗糙度的檢測(cè)程序
    序號(hào)
    測(cè)量方法
    檢驗(yàn)程序說明
    1
    目測(cè)檢查
      當(dāng)工件表面粗糙度比規(guī)定的粗糙度明顯的好或不好,不需用更**的方法檢驗(yàn)。工件表面存在著明顯影響表面功能的表面缺陷,選擇目測(cè)法檢驗(yàn)判定
    2
    比較檢查
      若用目測(cè)檢查不能做出判定,可采用視覺或顯微鏡將被測(cè)表面與粗糙度比較樣塊比較判定
    3
    儀器檢查
      若用粗糙度比較樣塊比較法不能做出判定,應(yīng)采用儀器測(cè)廚:
    ?、賹?duì)不均勻表面,在*有可能出現(xiàn)粗糙度參數(shù)極限值的部位上進(jìn)行測(cè)量;
    ?、趯?duì)表面粗糙度均勻的表面,應(yīng)在幾個(gè)均布位置上分別測(cè)量,至少測(cè)量3次;
    ?、郛?dāng)給定表面粗糙度參數(shù)上限或下限時(shí),應(yīng)在表面粗糙度參數(shù)可能出現(xiàn)*大值或*小值處測(cè)量;
    ?、鼙砻娲植诙葏?shù)注明是*大值的要求時(shí),通常在表面可能出現(xiàn)*大值(如有一個(gè)可見的深槽)處,至少測(cè)量3次;  
      測(cè)量方向:
    ?、賵D樣或技術(shù)文件中規(guī)定測(cè)量方向時(shí),按規(guī)定方向進(jìn)行測(cè)量;
     ②當(dāng)圖樣或技術(shù)文件中沒有指定方向時(shí),則應(yīng)在能給出粗糙度參數(shù)*大值的方向測(cè)量,該方向垂直于被測(cè)表面的加工紋理方向;
    ?、蹖?duì)無明顯加工紋理的表面,測(cè)量方向可以是任意的,一般可選擇幾個(gè)方向進(jìn)行測(cè)量,取其*大值為粗糙度參數(shù)的數(shù)值
    檢測(cè)表面粗糙度的常用方法
    序號(hào)
    檢驗(yàn)方法
    適用參數(shù)及
    范圍(μm)
    說明
    1
    樣塊
    比較法
    直接目測(cè):
    Ra>2.5;
    用放大鏡:
    Ra >
    0.32~0.5;
      以表面粗糙度比較樣塊工作面上的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn),用視覺法或觸覺法與被測(cè)表面進(jìn)行比較,以判定被測(cè)表面是否符合規(guī)定;     
      用樣塊進(jìn)行比較檢驗(yàn)時(shí),樣塊和被測(cè)表面的材質(zhì)、加工方法應(yīng)盡可能一致;     
      樣塊比較法簡(jiǎn)單易行,適合在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用
    2
    顯微鏡
    比較法
    Ra <0.32
      將被測(cè)表面與表面粗糙度比較樣塊靠近在一起,用比較顯微鏡觀察兩者被放大的表面,以樣塊工作面上的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn),觀察比較被測(cè)表面是否達(dá)到相應(yīng)樣塊的表面粗糙度;從而判定被測(cè)表面粗糙度是否符合規(guī)定。此方法不能測(cè)出粗糙度參數(shù)值
    3
    電動(dòng)
    輪廓儀
    比較法
    Ra 
    0.025~6.3
    Rz
    0.1~25
          電動(dòng)輪廓儀系觸針式儀器。測(cè)量時(shí)儀器觸針**在被測(cè)表面上垂直于加工紋理方向的截面上,做水平移動(dòng)測(cè)量,從指示儀表直接得出一個(gè)測(cè)量行程Ra值。這是Ra值測(cè)量*常用的方法。或者用儀器的記錄裝置,描繪粗糙度輪廓曲線的放大圖,再計(jì)算Ra或Rz值。此類儀器適用在計(jì)量室。但便攜式電動(dòng)輪廓儀可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用
    4
    光切
    顯微鏡
    測(cè)量法
    Rz
    0.8~100
      光切顯微鏡(雙管顯微鏡)是利用光切原理測(cè)量表面粗糙度的方法。從目鏡觀察表面粗糙度輪廓圖像,用測(cè)微裝置測(cè)量Rz值和Ry值。也可通過測(cè)量描繪出輪廓圖像,再計(jì)算Ra值,因其方法較繁而不常用。必要時(shí)可將粗糙度輪廓圖像拍照下來評(píng)定。光切顯微鏡適用于計(jì)量室
    5
    干涉
    顯微鏡
    測(cè)量法
    Rz
    0.032~0.8
      干涉顯微鏡是利用光波干涉原理,以光波波長(zhǎng)為基準(zhǔn)來測(cè)量表面粗糙度的。被測(cè)表面有一定的粗糙度就呈現(xiàn)出凸凹不平的峰谷狀干涉條紋,通過目鏡觀察、利用測(cè)微裝置測(cè)量這些干涉條紋的數(shù)目和峰谷的彎曲程度,即可計(jì)算出表面粗糙度的Ra值。必要時(shí)還可將干涉條紋的峰谷拍照下來評(píng)定。干涉法適用于精密加工的表面粗糙度測(cè)量。適合在計(jì)量室使用
     

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